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揚(yáng)州（CVT）抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理：

啟動(dòng)測(cè)量后高壓設(shè)定值送到變頻電源，變頻電源用PID算法將輸出緩速調(diào)整到設(shè)定值，測(cè)量電路將實(shí)測(cè)高壓送到變頻電源，微調(diào)低壓，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確高壓輸出。根據(jù)正/反接線和內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容的設(shè)置，測(cè)量電路根據(jù)試驗(yàn)電流自動(dòng)選擇輸入并切換量程，測(cè)量電路采用傅立葉變換濾掉干擾，分離出信號(hào)基波，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流和試品電流進(jìn)行矢量運(yùn)算，幅值計(jì)算電容量，角差計(jì)算tgδ。反復(fù)進(jìn)行多次測(cè)量，經(jīng)過(guò)排序選擇一個(gè)中間結(jié)果。測(cè)量結(jié)束，測(cè)量電路發(fā)出降壓指令變頻電源緩速降壓到0。

CVT測(cè)量：CVT隔離開(kāi)關(guān)斷開(kāi)，低壓隔離開(kāi)關(guān)接通輸出低壓。測(cè)量C2時(shí)，CVT倒線開(kāi)關(guān)接通，C2接入試品通道，用C1作標(biāo)準(zhǔn)電容測(cè)量C2。

高精度測(cè)量

采用頻率浮動(dòng)、數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù)，配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高精度介損測(cè)量，并且正/反接線測(cè)量的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性*。

揚(yáng)州（CVT）抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀功能特點(diǎn)

準(zhǔn) 確 度：CX:±（讀數(shù)×1%+1pF）    

       tgδ:±（讀數(shù)×1%+0.00040）

抗干擾指標(biāo):變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍:內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV      60pF～1μF/0.5kV

       外施高壓：3pF～1.5μF/10kV    60pF～30μF/0.5kV

分 辨 率:0.001pF，4位有效數(shù)字

tgδ范圍:不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

試驗(yàn)電流范圍:10μA～5A

內(nèi)施高壓:設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

大輸出電流:200mA

升降壓方式:連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度:±(1.5%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率:1V

試驗(yàn)頻率:45、50、55、60、65Hz單頻

、產(chǎn)品別稱(chēng)

介損測(cè)試儀、抗干擾介損測(cè)試儀、全自動(dòng)介損測(cè)試儀、異頻介損測(cè)試儀、異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀、全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

功能特點(diǎn)

1、變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術(shù)，在200%干擾下仍能準(zhǔn)確測(cè)量，測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，適合在現(xiàn)場(chǎng)做抗干擾介損試驗(yàn)。

2、高精度測(cè)量

采用數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù)，配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器，實(shí)現(xiàn)高精度介損測(cè)量。

儀器所有量程輸入電阻低于2Ω，消除了測(cè)量電纜附加電容的影響。

3、多級(jí)安全保護(hù)，確保人身和設(shè)備安全

高壓保護(hù)：試品短路、擊穿或高壓電流波動(dòng)，能以短路方式高速切斷輸出。

低壓保護(hù)：誤接380V、電源波動(dòng)或突然斷電，啟動(dòng)保護(hù)，不會(huì)引起過(guò)電壓。

接地保護(hù)：儀器接地不良使外殼帶危險(xiǎn)電壓時(shí)，啟動(dòng)接地保護(hù)。

C  V  T：高壓電壓和電流、低壓電壓和電流四個(gè)保護(hù)限，不會(huì)損壞設(shè)備；誤選菜單不會(huì)輸出激磁電壓。CVT測(cè)量時(shí)無(wú)10kV高壓輸出。